离子减薄仪

离子减薄仪

       精密离子减薄仪制样速度快，能够以最小的耗费制备出高质量的TEM样品；仪器操作方便快捷；配备了低能量离子枪功能，尤其适合对能量敏感性样品的减薄；配备液氮冷台，适合对温度敏感性样品的减薄。该离子减薄仪主要用于陶瓷、半导体、金属和合金等多种材料的透射电子显微镜（TEM）样品的制备。

       技术参数:

1.使用X, Y样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点

2.改进低电压性能的离子枪，有用电压低至100伏，从而快速安全地对FIB制备的TEM样品进行抛光

3.利用DigitalMicrograph®软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析

4.10英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有PIPS™Ⅱ参数